新製品「JIB-4601F 複合ビーム加工観察装置」

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All in one tool ~ 様々なアプリケーションをこの1台でご提供いたします ~

  • ・ FIB 加工から SEM 観察、EDS、EBSD 分析まで全ての機能に配慮した最適配置試料室
  • ・ 高分解能SEMとの組合せにより、精度の高い薄膜試料作製が可能
  • ・ FIB最大イオン電流60nAにより、大面積の短時間加工が可能
  • ・ 保護膜作製や配線修復の目的で、最大3種類のガス銃装着が可能
  • ・ FIBの加工状況を高分解能SEMにより、リアルタイムモニタリングが可能
  • ・ 高性能サーマルFE電子銃の採用により、最大電流200nAの高速分析が可能

日本電子株式会社

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